功能及附件： 主要技术指标：
1.晶体粉末的x射线衍射图谱测定 1.K值法定量分析测定多物质中某相物质的重量精度
2.晶体定性分析的自动检索（JCPDS卡片） 达0.01克
3.金属材料定量相分析（x射线衍射K值法） 2.测定残余奥氏体含量的体积百分比
4.残余奥氏体含量测定
5.x射线Kα双线分离
6.非晶物质径向分布函数测定
